NF C96-022-16-2003 半导体装置.机械和气候试验方法.第16部分:微粒碰撞噪声检测(PIND)
作者:标准资料网 时间:2024-05-14 11:39:22 浏览:8771
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part16:particleimpactnoisedectection(PIND).
【原文标准名称】:半导体装置.机械和气候试验方法.第16部分:微粒碰撞噪声检测(PIND)
【标准号】:NFC96-022-16-2003
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2003-07-01
【实施或试行日期】:2003-07-05
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:粒状物;电子工程;气候;半导体;电气工程;噪声;环境试验;杂质;半导体器件;集成电路;试验;电学测量;气候试验;机械试验;电子设备及元件;噪声测量;元部件
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:17_140_20;31_080_01
【页数】:9P;A4
【正文语种】:其他
【原文标准名称】:半导体装置.机械和气候试验方法.第16部分:微粒碰撞噪声检测(PIND)
【标准号】:NFC96-022-16-2003
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2003-07-01
【实施或试行日期】:2003-07-05
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:粒状物;电子工程;气候;半导体;电气工程;噪声;环境试验;杂质;半导体器件;集成电路;试验;电学测量;气候试验;机械试验;电子设备及元件;噪声测量;元部件
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:17_140_20;31_080_01
【页数】:9P;A4
【正文语种】:其他
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