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ANSI/EIA 656-A-1999 I/O缓冲信息规范(IBIS)(SP-3527)

作者:标准资料网 时间:2024-05-10 18:18:00  浏览:9452   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:I/OBufferInformationSpecification(IBIS)(SP-3527)
【原文标准名称】:I/O缓冲信息规范(IBIS)(SP-3527)
【标准号】:ANSI/EIA656-A-1999
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1999
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(ANSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:规范;电子工程;集成电路
【英文主题词】:integratedcircuits;electronicengineering;specification
【摘要】:IBISisastandardforelectronicbehavioralspecificationsofdigitalintegratedcircuitinput/output(I/O)analogcharacteristics.IBISspecifiesaconsistentsoftware-parsableformatforessentialbehavioralinformation.WithintheIBISformat,vendorscanaccuratelymodelcompatiblebuffers.ThegoalofIBISistosupportallsimulatorsofalldegreesofsophistication.
【中国标准分类号】:L60
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:
【正文语种】:英语


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【英文标准名称】:Specificationforharmonizedsystemofqualityassessmentforelectroniccomponents-Familyspecification-TTLFASTdigitalintegratedcircuitsseries54F,74F
【原文标准名称】:电子元器件质量评定协调体系规范.系列规范:TTL快速数字集成电路系列54F、74F
【标准号】:BSEN190107-1987
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:1987-09-15
【实施或试行日期】:1987-09-15
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:质量保证体系;数字集成电路;质量控制;电压;资格鉴定;温度;逻辑集成电路;集成电路;逻辑电路;晶体管;电路;工作范围;数字电路;试验条件;电气试验;检验;单片集成电路;规范(验收);额定值;认可试验;详细规范;试验设备;统计质量控制;电子设备及元件
【英文主题词】:Digitalintegratedcircuits;Electricalengineering;Electronicequipmentandcomponents;Familyspecification;Specification;TTL-LS-circuits
【摘要】:
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:36P.;A4
【正文语种】:英语


基本信息
标准名称:缩微摄影技术 有影像缩微胶片的连接
英文名称:Micrographics-Splices of microfilm with image
中标分类: 综合 >> 经济、文化 >> 图书馆、档案、文献与情报工作
ICS分类: 成像技术 >> 文献成象技术
替代情况:被GB/T 12355-2008代替
发布部门:国家技术监督局
发布日期:1990-05-11
实施日期:1991-03-01
首发日期:1990-05-11
作废日期:2009-01-01
主管部门:国家标准化管理委员会
归口单位:全国文献影像技术标准化技术委员会
起草单位:中国人民大学档案学院
出版社:中国标准出版社
出版日期:1991-03-01
页数:5
适用范围

本标准规定了有影像的16mm和35mm卷式缩微胶片的连接。本标准适用于有影像的16mm和35mm卷式缩微胶片的连接。

前言

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引用标准

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所属分类: 综合 经济 文化 图书馆 档案 文献与情报工作 成像技术 文献成象技术